Τεκμήριο
Για να παραπέμψετε στο παρόν τεκμήριο παρακαλούμε χρησιμοποιήστε τα παρακάτω αναγνωριστικά: http://hdl.handle.net/11637/114
Τίτλος: Preparation and x-ray pole-figure characterization of DC-sputtered Bi-2201, Bi2212 and Bi-2223 thin films
Χρονολογία: 1997
Εξειδίκευση τύπου: 
Δημιουργός: Holiastou, M.
Psyharis, V.
Niarchos, D.
Haibach, P.
Frey, U.
Andrian, H.
Γλώσσα: 
Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων: Ελληνικό Ινστιτούτο Μετρολογίας
Άδεια Χρήσης: 
Περίληψη: Thin films of the three members of the superconducting series Bi2Sr2Cart_1Cun02n+4. π = 1,2,3, were prepared by diode sputtering. X-ray characterization shows that all the films are single phase and c-axis oriented and in addition they are epitaxially grown. The latter is found by x-ray pote-figure measurements taken with a four-circle diffractometer. These are emphasized in this work. AC susceptibility measurements show that, while the 2201 films are not superconducting until 4 K, the transition temperatures of the 2212 films are 82 K-90 Κ and of the 2223 films 84 K-89 K.
Θέμα: 
Λέξεις κλειδιά: x-rays
Εκπαιδευτικό επίπεδο: 
Χρονολογία copyright: 1997
Αξιολόγηση από ομότιμους: 
Διάθεση πλήρους ψηφιακού τεκμηρίου: 
Εμφανίζεται στις συλλογές:Κείμενο
1.2 Επιστημονικές δημοσιεύσεις

Ψηφιακά Αρχεία
Αρχείο ΜέγεθοςΜορφότυπος 
Supercon. Sci. Technol. 10 (1997) 712-716.pdf309.61 kBAdobe PDFΔείτε/Ανοίξτε
Εξαγωγή σε:
Σύσταση τεκμηρίου σε τρίτο