Τεκμήριο
Για να παραπέμψετε στο παρόν τεκμήριο παρακαλούμε χρησιμοποιήστε τα παρακάτω αναγνωριστικά: http://hdl.handle.net/11637/116
Τίτλος: XRD and micro Raman characterization of epitaxial Bi-2201, Bi-2212 and Bi-2223 thin films
Χρονολογία: 1997
Εξειδίκευση τύπου: 
Δημιουργός: Holiastou, M.
Poulakis, N.
Palles, D.
Liarokapis, E.
Niarchos, D.
Frey, U.
Adrian, H.
Γλώσσα: 
Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων: Ελληνικό Ινστιτούτο Μετρολογίας
Άδεια Χρήσης: 
Περίληψη: Micro Raman characterization is performed on high quality thin films of Bi2Sr2Cu(Vx(2201), Bi2Sr2CaCu2Q8+j: (2212), Bi2Sr2Ca2Cu3O!0fN (2223) made by dc-sputtering. Single crystal x-ray measurements reveal the full epitaxy of the films, which allows for polarized Raman spectra to be obtained.
Θέμα: 
Λέξεις κλειδιά: thin films
Εκπαιδευτικό επίπεδο: 
Αξιολόγηση από ομότιμους: 
Διάθεση πλήρους ψηφιακού τεκμηρίου: 
Εμφανίζεται στις συλλογές:Κείμενο
1.2 Επιστημονικές δημοσιεύσεις

Ψηφιακά Αρχεία
Αρχείο ΜέγεθοςΜορφότυπος 
XRD and micro Raman characterization.pdf113.84 kBAdobe PDFΔείτε/Ανοίξτε
Εξαγωγή σε:
Σύσταση τεκμηρίου σε τρίτο