Τίτλος:	XRD and micro Raman characterization of epitaxial Bi-2201, Bi-2212 and Bi-2223 thin films
Χρονολογία:	1997
Εξειδίκευση τύπου:	Άρθρο
Δημιουργός:	Holiastou, M. Poulakis, N. Palles, D. Liarokapis, E. Niarchos, D. Frey, U. Adrian, H.
Γλώσσα:	Αγγλικά
Κάτοχος πνευματικών δικαιωμάτων:	Ελληνικό Ινστιτούτο Μετρολογίας
Άδεια Χρήσης:	Σήμα Δημοσίου Τομέα
Περίληψη:	Micro Raman characterization is performed on high quality thin films of Bi2Sr2Cu(Vx(2201), Bi2Sr2CaCu2Q8+j: (2212), Bi2Sr2Ca2Cu3O!0fN (2223) made by dc-sputtering. Single crystal x-ray measurements reveal the full epitaxy of the films, which allows for polarized Raman spectra to be obtained.
Θέμα:	Φυσική
Λέξεις κλειδιά:	thin films
Εκπαιδευτικό επίπεδο:	AEI TEI Πρόγραμμα Μεταπτυχιακών Σπουδών Πρόγραμμα Διδακτορικών Σπουδών
Αξιολόγηση από ομότιμους:	Ναι
Διάθεση πλήρους ψηφιακού τεκμηρίου:	Πλήρης
Εμφανίζεται στις συλλογές:	Κείμενο 1.2 Επιστημονικές δημοσιεύσεις