Skip navigation
Αρχική
Πλοήγηση
Συλλογές
Πλοηγηθείτε ανά
Εξειδίκευση τύπου
Δημιουργός
Τίτλος
Θέμα
Χρονολογία
Σχετικά
Επικοινωνία
Εγγραφή
ΕΛ
|
EN
Είσοδος στο αποθετήριο:
Το αποθετήριό μου
Λάβετε ενημερώσεις
με email
Επεξεργαστείτε το προφίλ σας
αποθετήριο
Εθνικό Σύστημα Υποδομών Ποιότητας
Αναζήτηση
Αναζητήστε σε:
Ολόκληρο το αποθετήριο
1. Ελληνικό Ινστιτούτο Μετρολογίας (ΕΙΜ)
2. Ελληνικός Οργανισμός Τυποποίησης (ΕΛΟΤ)
για
Τρέχοντα φίλτρα:
Τίτλος
Δημιουργός
Θέμα
Χρονολογία
Εξειδίκευση τύπου
Ισούται με
Περιέχει
ID
Δεν ισούται με
Δεν περιέχει
Not ID
Ξεκινήστε μία νέα αναζήτηση
Προσθέστε φίλτρα:
Τίτλος
Δημιουργός
Θέμα
Χρονολογία
Εξειδίκευση τύπου
Ισούται με
Περιέχει
ID
Δεν ισούται με
Δεν περιέχει
Not ID
Αποτελέσματα 1-2 από 2
Προηγούμενο
1
επόμενο
Εξαγωγή σε:
Επιλέξτε στυλ βιβλιογραφικής αναφοράς
APA - American Psychological Association
Harvard
Αποτελέσματα σε τεκμήρια:
Τύπος
Χρονολογία
Τίτλος
Δημιουργός
Διαθεσιμότητα
1998
Simulation of magnetic relaxation measurements of tetragonal Bi2Sr2CaCu2O8+x and Bi2Sr2Ca2Cu3O10+y thin films
Holiastou, M.
;
Pissas, M.
;
Niarchos, D.
;
Haibach, P.
;
Frey, U.
;
Adrian, H.
1997
XRD and micro Raman characterization of epitaxial Bi-2201, Bi-2212 and Bi-2223 thin films
Holiastou, M.
;
Poulakis, N.
;
Palles, D.
;
Liarokapis, E.
;
Niarchos, D.
;
Frey, U.
;
Adrian, H.
Αποτελέσματα 1-2 από 2
Προηγούμενο
1
επόμενο
Εξερευνήστε
Δημιουργός
2
Frey, U.
2
Holiastou, M.
2
Niarchos, D.
1
Haibach, P.
1
Liarokapis, E.
1
Palles, D.
1
Pissas, M.
1
Poulakis, N.
Θέμα
1
physicalSciences
Χρονολογία
1
1998
1
1997