Skip navigation
Αρχική
Πλοήγηση
Συλλογές
Πλοηγηθείτε ανά
Εξειδίκευση τύπου
Δημιουργός
Τίτλος
Θέμα
Χρονολογία
Σχετικά
Επικοινωνία
Εγγραφή
ΕΛ
|
EN
Είσοδος στο αποθετήριο:
Το αποθετήριό μου
Λάβετε ενημερώσεις
με email
Επεξεργαστείτε το προφίλ σας
αποθετήριο
Εθνικό Σύστημα Υποδομών Ποιότητας
Αναζήτηση
Αναζητήστε σε:
Ολόκληρο το αποθετήριο
1. Ελληνικό Ινστιτούτο Μετρολογίας (ΕΙΜ)
1.2 Επιστημονικές δημοσιεύσεις
για
Τρέχοντα φίλτρα:
Τίτλος
Δημιουργός
Θέμα
Χρονολογία
Εξειδίκευση τύπου
Ισούται με
Περιέχει
ID
Δεν ισούται με
Δεν περιέχει
Not ID
Τίτλος
Δημιουργός
Θέμα
Χρονολογία
Εξειδίκευση τύπου
Ισούται με
Περιέχει
ID
Δεν ισούται με
Δεν περιέχει
Not ID
Τίτλος
Δημιουργός
Θέμα
Χρονολογία
Εξειδίκευση τύπου
Ισούται με
Περιέχει
ID
Δεν ισούται με
Δεν περιέχει
Not ID
Τίτλος
Δημιουργός
Θέμα
Χρονολογία
Εξειδίκευση τύπου
Ισούται με
Περιέχει
ID
Δεν ισούται με
Δεν περιέχει
Not ID
Ξεκινήστε μία νέα αναζήτηση
Προσθέστε φίλτρα:
Τίτλος
Δημιουργός
Θέμα
Χρονολογία
Εξειδίκευση τύπου
Ισούται με
Περιέχει
ID
Δεν ισούται με
Δεν περιέχει
Not ID
Αποτελέσματα 1-2 από 2
Προηγούμενο
1
επόμενο
Εξαγωγή σε:
Επιλέξτε στυλ βιβλιογραφικής αναφοράς
APA - American Psychological Association
Harvard
Αποτελέσματα σε τεκμήρια:
Τύπος
Χρονολογία
Τίτλος
Δημιουργός
Διαθεσιμότητα
1997
Preparation and x-ray pole-figure characterization of DC-sputtered Bi-2201, Bi2212 and Bi-2223 thin films
Holiastou, M.
;
Psyharis, V.
;
Niarchos, D.
;
Haibach, P.
;
Frey, U.
;
Andrian, H.
1997
XRD and micro Raman characterization of epitaxial Bi-2201, Bi-2212 and Bi-2223 thin films
Holiastou, M.
;
Poulakis, N.
;
Palles, D.
;
Liarokapis, E.
;
Niarchos, D.
;
Frey, U.
;
Adrian, H.
Αποτελέσματα 1-2 από 2
Προηγούμενο
1
επόμενο
Εξερευνήστε
Δημιουργός
2
Holiastou, M.
1
Adrian, H.
1
Andrian, H.
1
Haibach, P.
1
Liarokapis, E.
1
Palles, D.
1
Poulakis, N.
1
Psyharis, V.